High voltage testing for the Majorana Demonstrator

N. Abgrall, I. J. Arnquist, F. T. Avignone, A. S. Barabash, F. E. Bertrand, A. W. Bradley, V. Brudanin, M. Busch, M. Buuck, D. Byram, A. S. Caldwell, Y. D. Chan, C. D. Christofferson, P. H. Chu, C. Cuesta, J. A. Detwiler, P. J. Doe, C. Dunagan, Yu Efremenko, H. EjiriS. R. Elliott, Z. Fu, A. Galindo-Uribarri, G. K. Giovanetti, J. Goett, M. P. Green, J. Gruszko, I. S. Guinn, V. E. Guiseppe, R. Henning, E. W. Hoppe, S. Howard, M. A. Howe, B. R. Jasinski, K. J. Keeter, M. F. Kidd, S. I. Konovalov, R. T. Kouzes, B. D. LaFerriere, J. Leon, A. Li, J. MacMullin, R. D. Martin, R. Massarczyk, S. J. Meijer, S. Mertens, J. L. Orrell, C. O'Shaughnessy, A. W.P. Poon, D. C. Radford, J. Rager, K. Rielage, R. G.H. Robertson, E. Romero-Romero, B. Shanks, M. Shirchenko, N. Snyder, A. M. Suriano, D. Tedeschi, A. Thompson, K. T. Ton, J. E. Trimble, R. L. Varner, S. Vasilyev, K. Vetter, K. Vorren, B. R. White, J. F. Wilkerson, C. Wiseman, W. Xu, E. Yakushev, C. H. Yu, V. Yumatov

Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

9 Scopus citations

High voltage testing for the Majorana Demonstrator

Fingerprint

Engineering