Aberration-corrected scanning transmission electron microscopy: From atomic imaging and analysis to solving energy problems

S. J. Pennycook, M. F. Chisholm, A. R. Lupini, M. Varela, A. Y. Borisevich, M. P. Oxley, W. D. Luo, K. Van Benthem, S. H. Oh, D. L. Sales, S. I. Molina, J. GarcíA-Barriocanal, C. Leon, J. SantamaríA, S. N. Rashkeev, S. T. Pantelides